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激光原位分析仪

激光原位分析仪:
将激光诱导击穿光谱分析技术(LIBS)和原位统计分布分析技术(OPA)*结合的,为材料成分分析,缺陷分析,涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。可用于航空航天、汽车、高铁、冶金、科研院所、质检中心等

  • 产品型号:YT02593
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-11-10
  • 访  问  量:7342
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详细介绍

激光原位分析仪

    将激光诱导击穿光谱分析技术(LIBS)和原位统计分布分析技术(OPA)*结合的,为材料成分分析,缺陷分析,涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。可用于航空航天、汽车、高铁、冶金、科研院所、质检中心等

仪器特点:

⊙ 多元素同时分析。28 个元素通道,包含 C,P,S 元素,

线性关系良好。

⊙ 预剥蚀时间,积分时间,门控延迟时间动态可调。

⊙ 分析简便、快速,无前处理过程,避免样品被污染。

⊙ 分析不受样品尺寸,状态,导电性,难熔与否的影响。

⊙ LIBS 具有高灵敏度与高空间分辨率,非常适合涂层材料、

薄膜材料分析。

⊙ 微小烧蚀光斑可进行局部微区分析,表面微损分析,适合材料

缺陷分析。

⊙ 非接触测量,响应迅速,分析时间短,可满足实时分析以及在

线分析的要求。

激光原位分析仪

仪器参数:

激光光源

⊙ Continuum SureliteTM III - 10 YAG 激光器

真空光学系统

⊙ 帕邢—龙格架法,光栅焦距 750 mm

⊙ 高发光全息光栅,刻线为 2400 条 /mm

⊙ 谱线范围:170 ~ 800 nm

⊙ 色散率:一级色散率:0.55 nm/mm

二级色散率:0.275 nm/mm

⊙ 分辨率:优于 0.01 nm

检测系统

⊙ 光电转换系统

⊙ 瞬态信号前端处理电路

⊙ 数字信号采集识别和解析系统

⊙ 多线程的数据采集方式

⊙ 样品扫描定位系统

⊙ 三维工作台

⊙ CCD 成像系统:联合数控工作台实现样品的定位和观察

⊙电源要求:220V/20A

⊙外形尺寸:1500 mm×750 mm×1600 mm(宽 × 深 × 高)

⊙重 量:毛重约 700 Kg

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