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激光原位分析仪
将激光诱导击穿光谱分析技术(LIBS)和原位统计分布分析技术(OPA)*结合的,为材料成分分析,缺陷分析,涂镀层等样品的分析应用提供了新的技术手段及质量判据。可用于航空航天、汽车、高铁、冶金、科研院所、质检中心等
仪器特点:
⊙ 多元素同时分析。28 个元素通道,包含 C,P,S 元素,
线性关系良好。
⊙ 预剥蚀时间,积分时间,门控延迟时间动态可调。
⊙ 分析简便、快速,无前处理过程,避免样品被污染。
⊙ 分析不受样品尺寸,状态,导电性,难熔与否的影响。
⊙ LIBS 具有高灵敏度与高空间分辨率,非常适合涂层材料、
薄膜材料分析。
⊙ 微小烧蚀光斑可进行局部微区分析,表面微损分析,适合材料
缺陷分析。
⊙ 非接触测量,响应迅速,分析时间短,可满足实时分析以及在
线分析的要求。
激光原位分析仪
仪器参数:
激光光源
⊙ Continuum SureliteTM III - 10 YAG 激光器
真空光学系统
⊙ 帕邢—龙格架法,光栅焦距 750 mm
⊙ 高发光全息光栅,刻线为 2400 条 /mm
⊙ 谱线范围:170 ~ 800 nm
⊙ 色散率:一级色散率:0.55 nm/mm
二级色散率:0.275 nm/mm
⊙ 分辨率:优于 0.01 nm
检测系统
⊙ 光电转换系统
⊙ 瞬态信号前端处理电路
⊙ 数字信号采集识别和解析系统
⊙ 多线程的数据采集方式
⊙ 样品扫描定位系统
⊙ 三维工作台
⊙ CCD 成像系统:联合数控工作台实现样品的定位和观察
⊙电源要求:220V/20A
⊙外形尺寸:1500 mm×750 mm×1600 mm(宽 × 深 × 高)
⊙重 量:毛重约 700 Kg